Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.
Objętość 85 stron
2016 rok
0+
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.
O książce
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».