Основной контент книги Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Tekst PDF
Objętość 6 stron
2014 rok
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Część serii «Прикладная информатика. Научные статьи»
4,50 zł
O książce
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Zaloguj się, aby ocenić książkę i dodać recenzję
Książka И. О. Атовмяна, В. Б. Шувалова i in. «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» — pobierz w formacie pdf lub czytaj online. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.
