Czytaj tylko na LitRes

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
ТекстtekstPDF

Objętość 43 strony

2013 rok

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

autorzy
Дмитрий Крутогин,
Олег Рабинович
PDF
0
Zostaw recenzję
ru
Książka w rosyjskim
Czytaj tylko na LitRes

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

399 ₽
4,88 zł

O książce

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Zostaw recenzję

Zaloguj się, aby ocenić książkę i zostawić recenzję
Książka Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — czytaj online na stronie. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.
Ograniczenie wiekowe:
0+
Data wydania na Litres:
29 marca 2018
Data napisania:
2013
Objętość:
43 str.
Całkowity rozmiar:
748 КБ
Całkowita liczba stron:
43
Właściciel praw:
МИСиС

Z tą książką czytają

Inne książki autora