Czytaj tylko na LitRes

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Objętość 43 strony

2013 rok

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

autorzy

Czytaj tylko na LitRes

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

399 ₽

5,42 zł

O książce

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Gatunki i tagi

MateriałoznawstwoWarsztaty

Zaloguj się, aby ocenić książkę i zostawić recenzję

Książka Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — czytaj online na stronie. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.

Ograniczenie wiekowe:

Data wydania na Litres:

29 marca 2018

Data napisania:

2013

Objętość:

43 str.

Całkowity rozmiar:

748 КБ

Całkowita liczba stron:

Właściciel praw:

МИСиС