Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Tekst PDF
Objętość 43 strony
2013 rok
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
5,53 zł
O książce
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Gatunki i tagi
Zaloguj się, aby ocenić książkę i dodać recenzję
Książka Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — czytaj online na stronie. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.
Ograniczenie wiekowe:
0+Data wydania na Litres:
29 marca 2018Data napisania:
2013Objętość:
43 str. Całkowity rozmiar:
748 КБCałkowita liczba stron:
43Właściciel praw:
МИСиС
