Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
PDFOznacz jako przeczytane
- Rozmiar: 94 str.
- Kategoria: materiałoznawstwo, inna literatura edukacyjnaEdytuj
Opis książki
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Szczegółowe informacje
- Ograniczenie wiekowe:
- 0+
- Data dodania do LitRes:
- 28 marca 2018
- Data powstania:
- 2006
- Rozmiar:
- 94 str.
- Całkowity rozmiar:
- 8 MB
- Całkowity liczba stron:
- 94
- Rozmiar stron:
149 x 210 мм
- Prawa autorskie:
- МИСиС
"Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия" — przeczytaj darmowy fragment online. Zamieszczaj komentarze, recenzje i głosuj na swoje ulubione.
Оставьте отзыв
Отзывы