Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Tekst PDF
Objętość 94 strony
2006 rok
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
399 ₽
18,72 zł
O książce
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Gatunki i tagi
Zaloguj się, aby ocenić książkę i dodać recenzję
Książka Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — czytaj online na stronie. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.
Ograniczenie wiekowe:
0+Data wydania na Litres:
28 marca 2018Data napisania:
2006Objętość:
94 str. Całkowity rozmiar:
8.8 МБCałkowita liczba stron:
94Właściciel praw:
МИСиС
