Читайте только на Литрес

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

Основной контент книги Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Tekst PDF

Objętość 642 strony

0+

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

autorzy
rolf-peter vollertsen,
jordi sune
Читайте только на Литрес

Książki nie można pobrać jako pliku, ale można ją czytać w naszej aplikacji lub online na stronie.

853,02 zł

O książce

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.

Gatunki i tagi

Zaloguj się, aby ocenić książkę i dodać recenzję
Książka Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» — czytaj online na stronie. Zostaw komentarze i recenzje, głosuj na ulubione.
Ograniczenie wiekowe:
0+
Data wydania na Litres:
26 sierpnia 2019
Objętość:
642 str.
ISBN:
9780470455258
Całkowity rozmiar:
8.2 МБ
Całkowita liczba stron:
642
Właściciel praw:
John Wiley & Sons Limited
Szkic, format audio dostępny
Średnia ocena 5 na podstawie 38 ocen
Audio
Średnia ocena 4,2 na podstawie 865 ocen
Szkic
Średnia ocena 4,8 na podstawie 209 ocen
Tekst
Średnia ocena 5 na podstawie 32 ocen
Tekst, format audio dostępny
Średnia ocena 4,7 na podstawie 645 ocen
Tekst PDF
Średnia ocena 0 na podstawie 0 ocen