Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
PDFOznacz jako przeczytane
- Rozmiar: 28 str.
- Kategoria: podręczniki, w tym dla szkoły wyższejEdytuj
Opis książki
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурьеспектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
Szczegółowe informacje
- Ograniczenie wiekowe:
- 0+
- Data dodania do LitRes:
- 25 kwietnia 2018
- Data powstania:
- 2012
- Rozmiar:
- 28 str.
- ISBN:
- 978-5-7782-1924-3
- Całkowity rozmiar:
- 1 MB
- Całkowity liczba stron:
- 28
- Rozmiar stron:
148 x 210 мм
- Prawa autorskie:
- Новосибирский государственный технический университет
"Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии" — przeczytaj darmowy fragment online. Zamieszczaj komentarze, recenzje i głosuj na swoje ulubione.
Оставьте отзыв
Отзывы